黑帽与DefCon大会:UEFI固件供应链与RISC-V芯片故障注入技术解析

本文聚焦BlackHat 2021与DefCon29两大安全会议的技术演讲,深度解析UEFI生态系统固件供应链安全挑战与RISC-V芯片的MTVEC寄存器故障注入攻防技术,涉及硬件漏洞挖掘与系统底层安全机制的研究突破。

我的BlackHat 2021与DefCon29演讲

作者:pi3

今年我将展示两项前沿安全研究成果:

BlackHat 2021

  • 演讲主题:《守护UEFI生态系统:固件供应链的硬编码困境》
  • 合作研究者:Alex Tereshkin与Alex Matrosov
  • 摘要链接:点击查看

DefCon 29

  • 演讲主题:《RISC-V芯片故障注入:MTVEC寄存器漏洞与ISA强化实践》
  • 合作研究者:Alex Matrosov
  • 摘要链接:点击查看

这两项研究均涉及非常规且极具深度的技术领域。
若您今年将出席拉斯维加斯的BlackHat或DefCon会议并希望交流,欢迎联系我共饮一杯!

致谢,
Adam

归档分类:Bughunt, Exploiting, Ideas, Meeting

comments powered by Disqus
使用 Hugo 构建
主题 StackJimmy 设计